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　　在我国铸铁平板标准中，规定测量铸铁平板面在各个方向（纵、横、对角、辐射）上的直线度误差中最大的一个直线度误差，作为铸铁平板面的平面度误差。对小的铸铁平板可采用标准平板研点法、塞尺检查法等，较大规格的铸铁平板或精度较高的铸铁平板可采用间接测量法、光隙基准法。
　　一、铸铁平板研点法
　　这种方法是在中小规格铸铁平板利用标准平板，涂色后对铸铁平板台面进行研磨点，检查接触斑点的分布情况，以证明铸铁平板台面平度情况。使用工具最简单，但不能得出平面度误差数据。铸铁平板最好采用0.1级精度的加厚标准平板。
　　二、塞尺检查法
　　用一根相应长度的铸铁平尺，精度为0~1级。在铸铁平板台上放两个等高垫块，铸铁平尺放在垫块上，用块规或塞尺检查铸铁平板至铸铁平尺工作面的间隙，或用平行平尺和百分表测量。如图：

　　三、间接测量法
　　所用的量仪有合像水平仪、自准直仪等。根据定义，平面度误差要按最小条件来评定，即平度度误差是包容实际表面且距离为最小的两平面间的距离。由于该平行平面，对不同的实际被测铸铁平板平面具有不同的位置，且又不能事先得出，故测量时需要先用过渡基准平面来进行评定。评定的结果称为原始数据。然后由获得的原始数据再按最小条件进行数据变换，得出实际的平面度误差。但是这种数据交换比较复杂。在实际铸铁平板生产中，常采用对角线法的过渡基准平面作为评定基准，虽然它不是最小条件，但是较接近最小条件。
　　对角线法测量铸铁平板平面度的方法是：以对角线的过渡基准平面作评定基准，对矩形被测表面测量时的布线方法如图所示，其纵向和横向布线应不少于两个位置。用对角线法，由于布线的原因，在各方向测量时，应采用不同长度的支承底座。测量时首先按布线方式测量出各截面上相对于端点连线的偏差，然后再算出相对过渡基准平面的偏差。平面度误差就是最高点与最低点之差。当被测平面为圆形时，应在夹角为45°的四条直径方向上检验。

　　四、用光线基准法
　　用光线基准法测量铸铁平板平面度时，可采用经纬仪等光学仪器，通过光线扫描方法来建立测量基准平面。其特点是，它的数据处理与调整方便，测量效率高，只是受仪器精度的限制，其测量精度不高。
　　测量时，将测量仪器放在被测铸铁平板表面，这样，被测表面位置变动对测量结果有影响，只是仪器放置部位的表面不能测量。测量议器也可放置于被测表面外，这样就能没出全部的被测表面，但被测表面位置的变动会影响测量结果。因此，在测量过程中，要保持被测表面的原始位置。此方法要求三点相距尽可能远一些，如图所示的Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ点。按此三点放置靶标，仪器绕轴旋转并逐一瞄准它们。调整仪器扫描平面位置，使与上述所建的平面平行，即靶标在这三点时，仪器的读数应相等，从而建立基准平面。然后，再测出被测表面上各点的相对高度，便可以得到铸铁平板表面的平面度误差的原始数据。